硅胶制品检验标准

一、一般标准

1.工作温度：-15℃~+80℃

2.贮存温度：-30°C~+85*C

3.贮存时间： 

A.产品在无挤压情况下平放：可长期保贮

B.产品在挤压情况下存放：1个月

4.工作相对湿度：45%~95%

5.工作i压：86-106Kpa

6.接触率：5MA在12VDC/0.5秒/2*107次

7.接触反弹：<12亳秒

8.绝缘电阻：>1012欧姆/500VDC

9.击穿电压：>25KV/mm

二、外观

1.颜色

(1).标准：硫化装配后硅胶不外露，无较大差异

(2).检测方法：在明亮的自然光或40W日光灯下，将标准样品或色卡与待校样品放在一起，经视力1.0以上，无色盲的专注人员在肉眼与样品间距为30cm的情况下目检5秒钟。

2.偏心

(1)标准：H厚-H薄

 弹性壁厚度<0.1MM时，模具检测时X =20%;

≤X弹性壁厚度<0.2MM 时，模具检测时X=15%

H厚+H薄

 弹性壁厚度<0.3MM时，模具检测时X=8%

(2)检测方法：用厚度仪测试。

3.溢料

(1)标准：从键面向下

单色料高≥露出外壳高度+ 1.0MM，装外壳后看不见为宜.

(2)检测方法：用游标卡尺测量

4.毛边

(1)标准：产品边缘：≤0.5MM

定位孔： ≤0.1MM

5.破裂

(1)标准： 无影响装配与使用性能之处：≤1.0MM

(2)检测方法：用游标卡尺测量

6. 色点凹凸点

(1)标准：客户装配后硅胶外露部分：无明显可见

检测方法：在明亮的自然光或40瓦日光灯照射下，将样品放于距肉眼30CM左右处经

视力1.0以上人员目测5秒钟

7.以上字符偏移

(1) 标准：中心值±0.15MM

(2)检测方法：用工具显微镜测量

三、物理性能

1.尺寸

L＜10： L±0.05MM

10≤L＜20： L±0.08MM

20≤L<30： L+0.10MM

30≤L<50： L+0.15MM

50≤L<100： L+0.3%LMM

100≤L ： L+0.5%LMM

(2)检测方法：用投影仪测量

2.弹力

(1)标准：

A.峰值P1

标准值： 

50±(5-10)g

70±(10-15)g

90±(15-20)g

100±(15-20)g

120±(20-25)g

150±(20-25)g

170±(25-30)g

200- 300g±35g

b.最小回弹P3

P1≤50G时： P3≥20G

50G<P1≤120G时： P3≥25G

120G<P1≤180G时： P3≥30G

180G<P1≤250G时： P3≥40G

250G<P1

时： P3≥50G

c.感觉：20%-80%

d.离散性

P1中心值≤150g时，同片产品之同种键型：≤15%

不同片产品之同种键型：<20%

P1中心值≥150g时，同片产品之同种键型：≤20%

不同片产品之同种键型：<25%

(2)测试方法：用AIKOH MODEL 1305弹力测量仪测出弹力随冲程的变化曲线图读取其峰值P1，接触弹力P2，最小回弹P3.计算其：

感觉=(P1-P2)/P1*

离散性=((P1更大峰值)-P1(最小峰值))/P1(更大峰值)*

3.接触电阻

(1)标准：

a.黑粒导电：≤100欧姆

b.移印导电：≤250欧姆

c.丝印导电：≤500欧姆

(2)测试方法：用压力为250g压力使产品键之导电基压在间隔为0.5MM的单缝半月形镀金板上，待万用表显示值基本稳定后，读取其显示值。

5.寿命

a.弹性壁寿命

(1)标准：≥50万次.

(2)测试方法：在AIKOH硅胶寿命测试仪的打击速率为2-5次/秒的情况下，设置打击平台的打击接触行程为产品冲程+[0.1-0.2]mm，经10万次打击后，弹性壁不得开裂破损，可回弹且提失s30%，当客户无要求时均按50万次进行测试.

b.印刷导电寿命

(1)标准：≥200000次

(2)测试方法：在AIKOH硅胶寿命测试仪的打击速率为2-5次/秒的情况下，设置打击平台的打击接触行程为产品冲程+[0.1-0.2]mm，经20万次打后，导电物质不得从导电基上脱落H其接触电阻在规格内。

c.印刷字体寿命

(1)标准：≥100圈

(2)测试方法：将字符单键安装于PK-3-4字体寿命仪上，使键高出0.5-1.0MM，在加上500G的压力转动摩擦，字体不断开，当客户无明确要求时可采用目视厚度方法进行寿命控制.

d.PU寿命

(1)标准：≥RCA 50圈

(2)测试方法：将测试KEY安装于RCA摩擦仪上露了高度0.5- lmm，压力为175g情况下字体出现损伤时寿命即为PU寿命.客户无要求时，PU寿命按此标准。

四、化学性能(只限录音电话机的硅胶按键)

1.加热失重率

(1)标准： a≤0.2%(经200℃/4HRS加热失重后)

b.≤1 .0%(经200^C/24HRS加热失重后)

(2)测试方法：将产品放于干燥箱内30分钟然后取出，用分析天平称取测试前产品的片重，W1将产品放入温度为200+/-5*C的烘箱内烘烤4小时或24小时，然后将产品拿出放入干燥箱内放置30分钟后用分析天平称取其重量W2，计算(W1-W2)/W1*之值。

2.抽提失重率

(1)标准：≤3.5%

(3)测试方法：选取一些有代表性的键，剪取约0.5g样品，再将其剪成0.005-0.01g的小粒，用分析天平称其准确总重为W1，将样品放抽提器内并加入异炳醇(IPA)进行提2小时，然后取出样品再放入温度为100"C的烘箱内烘烤半小时，取出后放入干燥箱内冷却半小时称其准确总重W2，计算(W1-W2)/W1*之值。

3.低分子含量

(1) 标准： D3-D10≤300PPM

测试方法：选取有代表性的键1.00+/-0.002g样品，将其剪成约为2mm的小颗粒，放入小瓶内，再将20ML CCL4溶液注入小瓶中，加入20UL的内标物(CH3(CH2 9CH3)摇匀存放16-24HRS，用色谱分析仪测量其D3-D10的量.